会員限定 集合研修初級開発者向けのテスト技法講座

分　　類	テクニカル研修（開発）
レ ベ ル	入門
講座内容	1.テスト技法の理解 2.テストの重要性の理解 3.仕様書をもとにテスト設計書の作成
日　　時	2023年9月13日(水)　10時00分〜18時00分
受講方法	下記会場での集合研修となります。 KENスクール横浜校　横浜市西区高島2-19-12 横浜スカイビル 20F　TEL 045-277-0028 https://www.kenschool.jp/school/yokohama/navi.php
対 象 者	テスト技法の基礎知識を身につけたい方
目　　的	テストの概要と基本的なテスト技法を習得する。
カリキュラム	1.テストの概要 　1)テストの目的 　2)瑕疵担保請求 　3)システム開発とテスト 　4)テストのライフサイクル 2.ホワイトボックステスト 　1)ホワイトボックステストとは 　2)制御フローテスト 　3)データフローテスト 3.ブラックボックステスト 　1)ブラックボックステストの目的 　2)境界値テスト 4.テスト項目 　1)データベースとのプログラムに関するテスト項目 　2)画面に関するテスト項目 　3)演習 5.コーディング規約チェック演習 6.テスト仕様書作成実習 7.画面仕様書作成実習
受 講 料	23,000円／名(税込み) ※開講決定後、請求書を発送いたしますので、指定口座にお振込みください。。 ※申し込み締め切り後のキャンセルは、キャンセル料として受講料を全額ご負担いただくこととなりますので、 　予めご了承ください。なお、代理出席は可能です。
定　　員	12名(最少開講人数3名)
講　　師	KENスクール(シンクスバンク)所属講師
ご 注 意	1.万一、受講者が少なく開講できない場合は、お申し込み締め切り日後にメールにてお知らせいたしますので 　ご確認ください。 2.開講できる場合は、お申し込み締め切り日後に、「受講のご案内」をメールいたします。
感染対策	皆さまに安心してご受講いただくために、研修会場では講師・受講者間の距離を確保し、十分な換気を行うとともに、手が触れる場所はアルコール消毒等を行うなど対策をしております。
申し込み	受講希望の際は、2023年8月29日(火)までに下記のアドレスからご登録ください。 https://www.kia.or.jp/event/7271/book_form.php
個人情報	お申し込みの際の個人情報は、事務局において厳重に管理し、原則として本講座の参加者の把握以外の目的に使用することはありません。